Výzkum, vývoj a inovace ve statistikách a analýzách
Technologické centrum AV ČR a Český statistický úřad pořádají dne 21. 4. 2017 odborný seminář na téma Výzkum, vývoj a inovace ve statistikách a analýzách: Výzkumníci, patenty a bibliometrické mapování.
Letošní seminář Vás seznámí s výsledky mapování vědy, technologií a inovací v ČR roku 2016, s nejnovějšími údaji z oblasti patentů a lidských zdrojů ve VaV a s novými možnostmi práce s bibliometrickými daty.
Seminář se koná v budově Technologického centra AV ČR, Ve Struhách 27, Praha 6. Registrace je nutná zde.
Zdroj: www.vedavyzkum.cz
